韋林3D測(cè)量工業(yè)內(nèi)窺鏡MViQ+系列產(chǎn)品，支持單物鏡相位掃描三維立體測(cè)量以及雙物鏡三維立體測(cè)量功能，在原有測(cè)量模式(測(cè)量方法)基礎(chǔ)上，增加了夾角測(cè)量、平面夾角測(cè)量、葉片缺失角測(cè)量模式，使得測(cè)量模式總計(jì)達(dá)到了14種。這些測(cè)量模式可以單獨(dú)使用，也可搭配使用，滿足檢測(cè)人員對(duì)各種缺陷的測(cè)量需求，拓展工業(yè)內(nèi)窺鏡的定量分析范圍，提升內(nèi)窺檢測(cè)的實(shí)際應(yīng)用能力。

韋林3D測(cè)量工業(yè)內(nèi)窺鏡MViQ+支持的14種測(cè)量模式的名稱(chēng)、應(yīng)用場(chǎng)景、以及操作方式，依次說(shuō)明如下：

1. 長(zhǎng)度測(cè)量模式：測(cè)量選定的光標(biāo)點(diǎn)之間的直線距離；

2. 多線段長(zhǎng)度測(cè)量模式：沿曲線或鋸齒狀路徑放置多個(gè)光標(biāo)，測(cè)量總長(zhǎng)度；

3. 點(diǎn)到線距離測(cè)量模式：先由兩點(diǎn)確定一條直線，再選擇一個(gè)點(diǎn)，測(cè)量該點(diǎn)到直線的垂直距離；

4. 面積測(cè)量模式：測(cè)量同一平面上多個(gè)光標(biāo)圍成區(qū)域的面積；

5. 深度測(cè)量模式：先由三點(diǎn)定義一個(gè)參考平面，第四個(gè)點(diǎn)置于平面上方或下方，測(cè)量點(diǎn)到參考平面之間的距離；

6. 深度剖面測(cè)量模式：從任意視角，通過(guò)參考平面上的兩點(diǎn)確定一個(gè)剖面，并自動(dòng)識(shí)別最深點(diǎn)或最高點(diǎn)；

7. 夾角：可測(cè)量平面上2條線之間的夾角；

8. 區(qū)域深度剖面測(cè)量模式(選裝)：掃描一個(gè)區(qū)域內(nèi)，一系列由三個(gè)光標(biāo)確定的深度剖面的剖面，并確定剖面的最高點(diǎn)或最低點(diǎn)；

9. 測(cè)量平面模式(選裝)：測(cè)量平面與其他測(cè)量方式結(jié)合使用，可將光標(biāo)點(diǎn)放在沒(méi)有3D數(shù)據(jù)的紅區(qū)和受3D數(shù)據(jù)噪聲影響的區(qū)域進(jìn)行測(cè)量；

- 結(jié)合面積測(cè)量判斷葉片邊緣缺失大小

- 結(jié)合點(diǎn)到線測(cè)量判斷葉片邊緣損傷

- 結(jié)合深度測(cè)量判斷葉片與機(jī)匣間隙

- 結(jié)合長(zhǎng)度測(cè)量或點(diǎn)到線測(cè)量判斷小的缺陷的大小

- 結(jié)合區(qū)域深度剖面測(cè)量判斷坑的深度

- 結(jié)合深度剖面測(cè)量光標(biāo)點(diǎn)無(wú)法在參考平面定位的區(qū)域

10. 渦輪葉片與機(jī)匣間隙自動(dòng)測(cè)量(選裝)：可自動(dòng)測(cè)量渦輪葉片與機(jī)匣之間的間隙，并自動(dòng)識(shí)別最大、最小間隙；

11. 半徑計(jì)測(cè)量模式(選裝)：可直接在葉片缺口處放置含有半徑、直徑信息的圓規(guī)，快速計(jì)算曲率半徑；

12. 平面夾角(選裝)：可測(cè)量2個(gè)相切平面之間的夾角；

13. 葉片缺失角測(cè)量(選裝)：可迅速測(cè)量葉片邊緣缺失角的面積、角度及邊緣長(zhǎng)度；

14. 自動(dòng)重復(fù)測(cè)量：可以使用同一測(cè)量模式測(cè)量不同零件時(shí)選擇此功能，則可在完成一次測(cè)量后，直接按相同測(cè)量模式開(kāi)始測(cè)量。

以上介紹了韋林3D測(cè)量工業(yè)內(nèi)窺鏡最新的14種測(cè)量模式以及操作應(yīng)用。除了這14種測(cè)量模式外，MViQ+還支持三維縫合，可以將多達(dá)10個(gè)單物鏡相位掃描三維立體測(cè)量圖像或雙物鏡三維立體測(cè)量圖像拼接在一起，創(chuàng)建更大、更完整的檢查區(qū)域圖片，從而讓準(zhǔn)確測(cè)量大尺寸缺陷成為現(xiàn)實(shí)，工業(yè)內(nèi)窺鏡的測(cè)量能力再次得到提升。

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